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雷射粒徑分析儀
測量範圍從10nm到3mm，是目前粒徑分析範圍最廣的雷射粒徑分析儀。
#光散射法#HORIBA#粒徑分析#粒徑測量#粉粒體技術#動態光#粒徑
1. 新的光學系統設計，測量範圍從10nm到3mm，是目前粒徑分析範圍最廣的粒徑分析儀。
2. 具±0.1%的高精確度及±0.6%的高準確度性能(NIST Traceable Standards)，測量結果穩定，重覆性高。
3. 從取樣到測量、洗淨，樣品分析結果可在1分鐘內處理完成，與以前的機種相比較，節省了1/4的測量時間。
4. 最強大的樣品分散系統，標準的高輸出功率離心式幫浦，搭配內建超音波，輕鬆分散樣品。
5. 獨特的樣品槽測量系統可同時安裝三種不同樣品分散系統，更換最快速，操作更簡便。
2. 具±0.1%的高精確度及±0.6%的高準確度性能(NIST Traceable Standards)，測量結果穩定，重覆性高。
3. 從取樣到測量、洗淨，樣品分析結果可在1分鐘內處理完成，與以前的機種相比較，節省了1/4的測量時間。
4. 最強大的樣品分散系統，標準的高輸出功率離心式幫浦，搭配內建超音波，輕鬆分散樣品。
5. 獨特的樣品槽測量系統可同時安裝三種不同樣品分散系統，更換最快速，操作更簡便。
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磐拓國際
公司位置：桃園市-桃園區
統一編號：89377464
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