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HITACHI EA1400
採用日立高新科技的最新專利SDD檢測器，垂直整合硬體系統，分析精度與速度比過往機種提升至少兩倍，以滿足RoHS有害物質與多方面的材
#RoHS#檢測#XRF#檢測器#SVHC#X-ray#分析#合金#標準品#元素
EA1400 (桌上型X射線螢光分析儀 Desktop XRF)
• 全新專利設計，高解析、高計數率SDD檢測器
• 綜合多種分析領域高階桌上型XRF
• 搭配真空系統， 全面提升元素測試感度
高靈敏度且快速分析
與以往機型相比，提高2倍以上的靈敏度。範例為黃銅中含鎘（Cd）感度分析：
高計數率新型專利SDD檢測器
使用超高計數率新型專利SDD檢測器，實現高靈敏度、高精度的快速測量
全新機構設計
不規則表面所產生的光線折射率，因全新設計的機構而降低分析所導致的誤差
優異的操作功能
- 多種語系（包含繁中/簡中/英文/日文/韓文）支援的操作介面
- 操作簡易，僅需三個步驟即可完成測試
- 強大的報告輸出功能，僅需一個按鈕即可完成報告生成
多功能硬體結合
同步結合真空與自動進樣兩大硬體系統
多種環境限制用標準物質
- 標準配備RoHS標準品與儀器硬體調校試片
- 除RoHS指令的限制物件元素（Cd、Pb、Hg、Br、Cr）以外，並開發製造常用標準物質，包含氯（Cl）、銻（Sb）和錫（Sn）供選購
基本規格
| 項目 | 規格 |
|---|---|
| 產地 | 日本 |
| 測定元素範圍 | 鋁（Al13）～鈾（U92），大氣環境 鈉（Na11）～鈾（U92），真空環境 |
| 樣品型態 | 固體、液體、粉末 |
| X射線源 | X射線管（Rh靶） 管電壓： 15 kV, 50 kV（可調式） 管電流：1mA（10~1000µA，自動調整最適電流輸出） |
| X射線照射方向 | 下方垂直照射型 |
| 檢測器 | 新式專利SDD矽半導體檢測器 |
| 冷卻方式 | 電子冷卻（不需液態氮） |
| 準直器（分析區域） | 1、3、5 mmΦ（自動切換） |
| 樣品觀察 | 高解析度彩色CCD鏡頭 |
| 濾波器 | 5種模式（自動切換） |
| 樣品室 | 304(W)×304(D)×110(H) mm |
| 儀器尺寸 | 520(W)×600(D)×445(H) mm |
| 重量 | 69Kg（不含電腦） |
| 定性分析功能 | ■ 元素分析 ■ 能譜比對 ■ 資料庫自動辨別比對 |
| 定量分析功能 | ■ RoHS有害物質分析 ■ 無鹵規範有害物質分析 ■ EN71-3有害物質分析 ■ 金屬電鍍膜厚測定 ■ 元素分析FP法 ■ 元素分析檢量線法 ■ HS快速分析模式 |
| 標準配件 | ■ 桌上型電腦（含螢幕、滑鼠、鍵盤） ■ RoHS有害物質標準品（日本JAB一級認證標準品） ■ 儀器硬體確認試片（含強度、能量、解析度及X光徑） ■ 專用樣品杯 ■ 專用測試薄膜 |
| 選配 | ■ 轉盤型自動進樣器 ■ 多種環境限制用標準物質（無鹵、EN71-3、膜厚 、 銻Sb、錫Sn、磷P、硫S） ■ 金屬膜厚標準品 |
| 設置需求 | 建議桌面尺寸：1500(W)×1000(D) mm 使用電源：AC100～240V（50～60Hz）/180VA |
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